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      當前位置:首頁   >    產品中心   >    介電常數介質損耗因數測試儀   >    介電常數測試儀GDAT-C   >   GDAT-A絕緣材料介電常數/介質損耗測試儀 產品展示

      絕緣材料介電常數/介質損耗測試儀

      型 號GDAT-A

      更新時間2024-11-21

      廠商性質生產廠家

      報價

      產品描述:絕緣材料介電常數/介質損耗測試儀

      產品概述

       絕緣材料介電常數/介質損耗測試儀系統由BH916測試裝置(夾具)、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成,它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的zui、好解決方案。

       

       

       

       

      附表二,LKI-1電感組典型測試數據

      線圈號

      測試頻率

      Q值

      分布電容p

      電感值

      9

      100KHz

      98

      9.4

      25mH

      8

      400KHz

      138

      11.4

      4.87mH

      7

      400KHz

      202

      16

      0.99mH

      6

      1MHz

      196

      13

      252μH

      5

      2MHz

      198

      8.7

      49.8μH

      4

      4.5MHz

      231

      7

      10μH

      3

      12MHz

      193

      6.9

      2.49μH

      2

      12MHz

      229

      6.4

      0.508μH

      1

      25MHz
      50MHz

      233
      211

      0.9

      0.125μH

       

       

       

       

       絕緣材料介電常數/介質損耗測試儀主要技術特性:介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;

       

       基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動穩幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。

       

       在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等、

       

       

       

       

       

       特點: 

      ◎ 本公司創新的自動Q值保持技術,使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

       

      ◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

       

      ◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較

      小。

       

      ◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態等。

       

      ◎ Q值量程自動/手動量程控制。

       

      ◎ DPLL合成發生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。

       

      ◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

       

       

       

       

       裝置:

      2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
      2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
      2.3.3 圓筒電容器線性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
      2.3.4 圓筒電容器可調范圍:±12.5mm(±4.2pF)
      2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
      2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4

       

       

       

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      是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動穩幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。

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